XDS4000 Series 350MHz-500MHz Digital Oscilloscope
| 원산지 | CHINA |
|---|---|
| 제조사 | OWON |
| 브랜드 | OWON |
| 무게 | 1kg |
350MHz/500MHz 디지털 오실로스코프
XDS4000 Series 350MHz-500MHz Digital Oscilloscope
매우 비용 효율적인 7-통합 오실로스코프-1
하나의 장치로 모든 요구 사항이 충족됩니다.
효율성, 편의성, 혁신을 하나의 솔루션으로 융합하여 궁극적인 만족을 선사합니다.
오실로스코프 + 350MHz, 500MHz; 최대 5 GSa/s 실시간 샘플링 속도 + 2 또는 아날로그 채널 4개 + 표준 400Mpts 메모리 깊이 + 최대 파형 캡처 속도 600,000wfms/s |  |
 | 50MHz 파형 발생기 + 표준 50MHz 단일 채널 임의 파형 출력 + 250MSa/s 샘플링 속도 + 16k 임의 파형 길이 + 64 사전 정의된 파형 + 출력 진폭 2mVpp-20Vpp |
데이터 로깅 기능이 있는 4 ½ 디지트 멀티미터(옵션) + 전압, 전류, 커패시턴스, 저항, 연속성, 다이오드 테스트 지원 + 데이터 로깅 기능이 내장되어 측정 대상의 변화 추세를 장기간 분석 가능 |  |
 | 고정밀 주파수 카운터 + 6-자리 고정밀 주파수 카운터 + 최대 통계를 지원합니다. 그리고 분. 주파수 값 |
FFT 스펙트럼 분석기 + 표준 FFT, 파형 데이터의 실시간 작동 + 4개의 FFT 창 지원: Rectangular, Hamming, Hanning 및 Black-harris + 최대. 주파수 범위: 오실로스코프 아날로그 대역폭 |  |
 | 프로토콜 분석(옵션) IIC, SPI, RS232/UART, CAN 직렬 버스 디코딩 기능 지원 |
주파수 특성 곡선 XDS4000 시리즈는 내장된 신호 발생기 모듈을 제어하여 지정된 범위의 스윕 신호를 생성하고 신호를 스위치 전원 공급 장치로 출력하여 루프 분석 테스트를 수행할 수 있습니다. 테스트에서 생성된 보드 플롯은 다양한 주파수에서 시스템의 이득 및 위상 변화를 표시할 수 있으므로 엔지니어는 보드 플롯의 데이터를 명확하게 볼 수 있습니다. 위상 여유(PM)와 이득 여유(GM)를 분석하여 시스템이 안정적인지 판단할 수 있습니다. |  |
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