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LECROY WaveMaster 8 Zi-B 오실로스코프

WaveMaster 8 Zi-B 오실로스코프의 고대역폭 성능(최대 20GHz)과 범용 기능의 고유한 조합은 가장 포괄적인 검증 및 디버그 기능을 가능하게 합니다.

LECROY WaveMaster 8 Zi-B 오실로스코프 이미지

WaveMaster 8 Zi-B 오실로스코프의 고대역폭 성능(최대 20GHz)과 범용 기능의 고유한 조합은 가장 포괄적인 검증 및 디버그 기능을 가능하게 합니다.

원산지USA
제조사TELEDYNE
브랜드LECROY
무게1kg
  • 최고의 사양
  • 50Ω 및 1MΩ 입력을 제공하여 가장 광범위한 프로브 지원
  • 혼합 신호 포착 기능
  • 포괄적인 시리얼 트리거링 및 디코딩

  • 시리얼 데이터 및 DDR에 가장 적합
  • 간단하고 강력한 컴플라이언스 테스트 자동화
  • 상호적인 DDR 디버그 툴킷
  • 아이다이어그램, 지터 및 노이즈 분석에 필요한 모든 툴

  • 전체 링크 분석
  • WavePulser 40iX로 측정한 S-파라미터 파일 가져오기
  • 디 임베디드 픽스처 및 채널 에뮬레이션
  • 트랜스미터 및 리시버 균등화 효과 측정

  • 최고의 사양

WaveMaster 8 Zi-B 오실로스코프의 고대역폭 성능(최대 20GHz)과 범용 기능의 고유한 조합은 가장 포괄적인 검증 및 디버그 기능을 가능하게 합니다.



  • 50 Ω 및 가장 넓은 프로브 지원을 위한 1MΩ 입력

WaveMaster는 1MΩ 입력을 기본으로 제공하는 유일한 고대역폭 오실로스코프입니다. 고가의 외부 어댑터를 사용하지 않고도 패시브 프로브를 직접 연결할 수 있고 다양한 저전압, 고전압 및 전류 프로브를 지원하여 가장 많은 프로브를 사용할 수 있습니다.


  • 혼합 신호 포착, 저속 및 고속

최대 36개 채널 및 500MHz 디지털 클록 속도로 저속 디지털 포착 또는 최대 18개 채널 및 6Gb/s 디지털 클록 속도로 고속 디지털 포착을 위한 혼합 신호 옵션으로 포착 범위를 확장하십시오.



  • 포괄적인 시리얼 데이터 트리거/디코더

포괄적인 저속 시리얼 데이터 트리거 및 디코더와 측정/그래프 및 아이 다이어그램 테스트는 저속 이벤트에 대한 최상의 인과 분석을 제공합니다. 저속 시리얼 상호 작용을 고속 시리얼 데이터 또는 기타 이벤트와 쉽게 연관시킵니다.


  • 시리얼 데이터 및 DDR에 가장 적합

WaveMaster 8 Zi-B는 고속 시리얼 데이터 및 메모리 컴플라이언스 및 디버깅에 최고의 오실로스코프 플랫폼입니다.



  • QualiPHY 자동 컴플라이언스 테스트
  • PCI Express®, USB, HDMI™, DisplayPort™, 이더넷, 자동차 이더넷, DDR 및 기타 여러 시리얼 데이터 표준을 지원합니다.
  • 완전 자동화된 트랜스미터 및 리시버 테스트 및 리시버 테스트 교정
  • 단계별 지침 및 자동 보고서 생성
  • 자동화된 합격/불합격 테스트 보고서

  • 가장 완벽한 시리얼 데이터 분석 도구 세트
  • 멀티 레인 지터 및 아이 분석
  • LaneScape™ 비교 모드
  • 수직 노이즈 및 크로스토크 분석
  • 통합 이퀄라이제이션, 에뮬레이션 및 디임베딩
  • 가상 프로빙

  • 포괄적인 DDR 테스트 제품군
  • DDR2/LPDDR2X에서 DDR5/LPDDR4까지 지원
  • JEDEC 물리 계층 적합성 테스트
  • DDR 디버그 툴킷 DDR 설계 및 통합 주기 동안 빠른 문제 해결 제공
  • HDA125 고속 디지털 분석기 유연한 혼합 신호 프로빙용
  • 최대 20GHz의 탁월한 프로빙 다용성

  • 전체 링크 분석

WavePulser 40iX 고속 상호 연결 분석기, WaveMaster 8 Zi-B 오실로스코프 및 SDAIII-CompleteLinQ 옵션의 조합은 사용 가능한 가장 완벽한 신호 무결성 분석 툴킷을 제공합니다.



  • 디 임베드 픽스처 및 테스트 케이블
  • S-파라미터 가져오기 WavePulser 40iX 또는 다른 툴
  • 아이 닥터 및 가상 프로브 고정 장치 및 케이블의 영향을 쉽고 정확하게 제거하는 도구
  • 전체 적용 SDAIII-CompleteLinQ 테스트 대상 디바이스의 출력 핀에서 직접 전체 아이, 지터 및 노이즈 분석을 위해 파형을 포함하지 않는 툴킷


  • 실제 채널 손실 에뮬레이션
  • WavePulser 40iX 테스트 채널 손실 프로파일의 정확한 측정을 단순화하고 가속화
  • 신호 경로의 임의 지점에서 파형을 포착한 후, 채널 효과를 적용합니다.
  • 채널 상의 여러 테스트 지점의 아이, 지터 및 노이즈를 동시에 측정 비교


  • Tx 및 Rx 이퀄라이제이션 에뮬레이션
  • SDAIII-CompleteLinQ Eye Doctor를 사용하면 다음을 포함한 모든 일반적인 이퀄라이제이션 유형을 에뮬레이션할 수 있습니다.

— Transmitter emphasis

— Receiver FFE

— Receiver CTLE

— Receiver DFE

  • 완전한 PCI Express® 전기 테스트 솔루션

Teledyne LeCroy의 PCI Express 전기 테스트 솔루션은 자동화된 트랜스미터, 리시버 및 링크 이퀄라이제이션(LEQ) 테스트 및 프로토콜 작동을 통한 물리 계층의 가시성을 위한 정교한 소프트웨어와 우수한 장비를 결합합니다.


  • USB 및 USB Type-C® 전기 테스트 솔루션

2011년 텔레다인 르크로이는 3.0Gb/s의 속도의 USB 5 컴플라이언스 테스트 장비로 승인된 최초의 USB-IF "골드 스위트"가 되었습니다. Teledyne LeCroy는 USB4, USB , Thunderbolt™/ and DisplayPort/ 사양 기준 및 디스플레이포트 솔루션으로 ®계속해서 신뢰할 수 있는 리더입니다.™ 3/4 및 디스플레이 포트™ 2.0 사양 기준.


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