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KONICA MINOLTA LS-160 휘도계
저휘도부터 고휘도까지의 광범위한 휘도룰 측정할 수 있고, 사용하기 편리한 고정밀 색채휘도계입니다.
KONICA MINOLTA LS-150 휘도계
저휘도부터 고휘도까지의 광범위한 휘도룰 측정할 수 있고, 사용하기 편리한 고정밀 색채휘도계입니다.
KONICA MINOLTA CS-200 색채휘도계
신개발된 분광 피팅 방식을 채택하여 각종 디스플레이, LED, 조명 등의 고정밀 휘도, 색도, 상관 색온도의 측정이 가능합니다. 소형, 경량, 배터리 구동으로, 저휘도부터 고휘도까지의 측정을 모두 1대로 할 수 있습니다.
KONICA MINOLTA CS-2000A 분광방사휘도계
*Polychromator 방식의 분광방사휘도계로서(2008년 10월 현재)
KONICA MINOLTA CS-2000 분광방사휘도계
*Polychromator 방식의 분광방사휘도계로서(2008년 10월 현재)
KONICA MINOLTA CS-2000Plus 분광방사휘도계
본 기기는 수 년간 축적된 센서 기술과 최신 디지털 기술이 반영된 분광 방사 휘도계로써, 고화질 디스플레이 개발 및 검사에 최적화된 성능을 갖추고 있습니다.
KONICA MINOLTA CS-3000 SERIES 분광방사휘도계
본 기기는 수 년간 축적된 센서 기술과 최신 디지털 기술이 반영된 분광 방사 휘도계의 최상위 모델로써, 고화질 디스플레이 개발 및 자동화 검사에 최적화된 성능을 갖추고 있습니다.
FLUKE 5644 서미스터 표준 프로브
각 온도 프로브는 박막 스테인리스 강 튜브에 내장된 초고 안정도 유리 서미스터를 사용 합니다. 기본 반도체 요소는 망간, 니켈, 코발트 산화물이 0.1 mm 백금 와이어에 장착된 비드입니다. 장기 안정도를 위해 서미스터는 16주 동안 다양한 온도에서 에이징 됩니다. 에이징 과정 동안 기재 성능을 준수하는지 보장하기 위해 프로브 안정도를 확인하게 됩니다.
FLUKE 5643 서미스터 표준 프로브
각 온도 프로브는 박막 스테인리스 강 튜브에 내장된 초고 안정도 유리 서미스터를 사용 합니다. 기본 반도체 요소는 망간, 니켈, 코발트 산화물이 0.1 mm 백금 와이어에 장착된 비드입니다. 장기 안정도를 위해 서미스터는 16주 동안 다양한 온도에서 에이징 됩니다. 에이징 과정 동안 기재 성능을 준수하는지 보장하기 위해 프로브 안정도를 확인하게 됩니다.
FLUKE 5642 서미스터 표준 프로브
각 온도 프로브는 박막 스테인리스 강 튜브에 내장된 초고 안정도 유리 서미스터를 사용 합니다. 기본 반도체 요소는 망간, 니켈, 코발트 산화물이 0.1 mm 백금 와이어에 장착된 비드입니다. 장기 안정도를 위해 서미스터는 16주 동안 다양한 온도에서 에이징 됩니다. 에이징 과정 동안 기재 성능을 준수하는지 보장하기 위해 프로브 안정도를 확인하게 됩니다.
FLUKE 5641 서미스터 표준 프로브
각 온도 프로브는 박막 스테인리스 강 튜브에 내장된 초고 안정도 유리 서미스터를 사용 합니다. 기본 반도체 요소는 망간, 니켈, 코발트 산화물이 0.1 mm 백금 와이어에 장착된 비드입니다. 장기 안정도를 위해 서미스터는 16주 동안 다양한 온도에서 에이징 됩니다. 에이징 과정 동안 기재 성능을 준수하는지 보장하기 위해 프로브 안정도를 확인하게 됩니다.
FLUKE 5640 서미스터 표준 프로브
각 온도 프로브는 박막 스테인리스 강 튜브에 내장된 초고 안정도 유리 서미스터를 사용 합니다. 기본 반도체 요소는 망간, 니켈, 코발트 산화물이 0.1 mm 백금 와이어에 장착된 비드입니다. 장기 안정도를 위해 서미스터는 16주 동안 다양한 온도에서 에이징 됩니다. 에이징 과정 동안 기재 성능을 준수하는지 보장하기 위해 프로브 안정도를 확인하게 됩니다.