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ATM2-wModbus WIRELESS Outside temperature/ wet room temperature measuring transducers

The E4727B Advanced Low-Frequency Noise Analyzer enables fast, accurate and repeatable low-frequency noise (LFN) measurements on numerous device types. Now, thanks to tight integration with PathWave WaferPro (WaferPro Express) software, device modeling and characterization engineers can now add noise measurements to a larger suite that includes high-speed DC, capacitance and RF S-parameter measurements, all the while automating wafer prober control.

ATM2-SD Outside Temperature / Wet room temperature measuring transducer

ATM2-I Outside Temperature / Wet Room Temperature Measuring Transducer

키사이트 B1500A 반도체 파라미터 분석기는 IV, CV, 펄스/동적 IV 등을 지원하는 올인원 디바이스 특성화 분석기입니다. 메인프레임 및 플러그인 모듈은 대부분의 전자 디바이스는 물론 재료, 반도체 및 액티브/패시브 콤포넌트의 특성을 분석합니다. B1500A 반도체 파라미터 분석기 모듈러 아키텍처는 필요에 따라 업그레이드할 수 있는 유연성을 제공합니다.

ATM2-ECATP On-wall/ Outdoor-/ Wet room Temperature Measuring Transducers

RTM1- I Room Temperature Measuring Transducer

전압 변경과 안정화, 정확한 측정이 1 ms 이내에 이루어집니다!

RTM1-SD Room Temperature Measuring Transducer

RTM1-SD Room Temperature Measuring Transducer

키사이트 M9615A는 PXIe 5채널 정밀 소스 / 측정 장치(SMU)입니다. 최저 6 uV / 10 pA의 분해능으로 최대 30 V / 500 mA의 정확한 측정을 지원합니다. PXIe SMU는 벤치탑 SMU에 비해 채널 밀도를 개선하며 M9615A를 사용하면 동일한 풋프린트에서 채널 밀도를 더 높일 수 있습니다. 또한 채널당 더 낮은 비용으로 기존 PXIe 4-채널 SMU보다 더 넓은 출력 범위를 제공합니다. 펄스형 및 샘플링 기능을 사용하면 500 kSa/s의 샘플링 속도에서 최저100 μs의 펄스 폭으로 M9615A가 DC 측정부터 펄스형 측정까지 다양한 측정을 수행할 수 있습니다. 매끄러운 전류 측정 범위 지정 기능으로 범위를 변경하는 데 걸리는 시간이 사라져 테스트 시간이 감소하고 4개의 측정 범위가 지원되도록 동적 범위가 확장됩니다. 이러한 기능 덕분에 M9615A는 반도체 신뢰성 테스트 및 집적 회로(IC) 테스트와 같이 높은 채널 밀도가 요구되는 분야에 적합합니다.

The Keysight M9614A is a PXIe five-channel source / measure unit (SMU). It supports accurate measurement up to 30 V / 500 mA with resolution down to 6 μV / 100 pA. While a PXIe SMU improves channel density compared with a benchtop SMU, the M9614A enables higher channel density in the same footprint. They also provide a wider output range than a conventional PXIe four-channel SMU at a lower cost per channel. Pulsed and sampling capabilities allow the M9614A to perform a variety of measurements, from DC to pulsed measurements, with pulse width down to 100 μs at a sampling rate of 500 kSa/s. Their seamless current measurement ranging function reduces test duration by eliminating the time it takes to change the range and expands the dynamic range to cover four measurement ranges. These capabilities make the M9614A suitable for applications that require high channel density, such as semiconductor reliability testing and integrated circuit (IC) tests.