점퍼 저항기 검사 시간 최대 76% 단축: 점퍼 저항 측정 지원 기능
| 원산지 | JAPAN |
|---|---|
| 제조사 | HIOKI |
| 브랜드 | HIOKI |
| 무게 | 1kg |
점퍼 저항기 검사 시간 최대 76% 단축: 점퍼 저항 측정 지원 기능
점퍼 저항 (제로옴) 등 100mΩ 이하의 검사에서 시간이 걸리는 고정밀 레인지를 스킵. 대표 조건으로 약 76%의 시간 삭감.
예: 100 mΩ 점퍼 저항(제로옴 저항) 검사
콤퍼레이터 설정: 상한값 100 mΩ, 하한값 50 mΩ
측정기 설정: 측정 속도 FAST, 딜레이 (인가 시작부터 측정까지의 시간): 0 ms
선별·등급 분류 공정 효율 향상: BIN기능 (RM3542C·3만 해당)
복수의 판정 기준으로 측정 결과를 0~6 카테고리로 구분. 합격/불합격 뿐만 아니라 등급 분류가 필요한 양산 검사의 분류를 단순화합니다。
검사 신뢰성을 높이고 테이핑 공정의 검사 판정 및 이송 처리를 효율화: ΔR기능 (RM3542C-3만 해당)
연계된 2대의 측정 결과에서 저항값의 변화율(△R)율 산출, 자동 비교하여 임계값을 바탕으로 불량 판정을 합니다.
외부 연산이 필요 없고, 공정 간 비교를 라인 내에서 완결할 수 있습니다.
유연한 적분 시간 설정과 레인지 최적화로 생산 효율과 고정밀·안정 측정을 동시에 실현
각 레인지에서 적분 시간을 개별 설정. FAST 0.9ms (최속)에서 SLOW의 고정확도까지 최적화. 3Ω/300Ω 등 중간 레인지 채택으로 S/N 개선과 편차 저감을 지원.
또한, 플로팅 설계로 생산 라인과 같은 노이즈가 많은 환경에서도 안전 측정이 가능합니다.
저스트레스 측정으로 디바이스의 특성 변화나 손상을 방지하고, 고신뢰성 측정을 실현
측정 스트레스의 주요 원인인 인가 전압을 ≤5V로 제한 가능. 접촉 개선 전류를 H/L 단자측에서 교대 인가하여 전극 표면을 정돈하면서 돌입 전류 피크를 억제. 0201이나 특성 변화가 큰 페라이트 비즈도 배려.
[동작 조건] LOW POWER: ON 또는 인가 전압 제한 기능 :ON일 때, 접촉 개선 기능을 펄스 설정
접촉 개선+콘택트 감시로 오판정을 억제로 오판정 위험을 크게 줄이고 높은 검사 신뢰성을 확보
판정 전 접촉 개선 (17/25/30/50mA)으로 접촉을 안정화. 검사 중에는 콘택트 체크로 상태를 상시 모니터링하여 접촉 원인의 오판정이나 라인 정지 리스크를 억제.
보다 안정적인 시스템 운용과 엄격한 검사
프리셋으로 조건을 즉시 불러와 작업 절차의 실수를 줄여 마무리 작업을 안정화. 스테이지 혼동 방지로 2대 교정 설비로의 교정, 유지보수 후의 기기 접촉 실수를 피합니다. 또한, 90일 정확도*로 보다 높은 측정 정확도를 보장하고 초정밀 부품 부품 검사에 적합. 작업 절차 재현성, 라인 안정, 엄격 판정을 동시에 실현합니다.
*RM3542-C만 해당
